Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique

Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique

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Die vorliegenden Verhandlungen des IV. Internationalen Kongresses fA¼r ElektronenmikroAm skopie, der unter den Auspizien der International Federation 0/ Electron Microscope Societies im Jahre 1958 in Berlin stattfand, veranschaulichen, in welchem AusmaAŸ die Elektronenmikroskopie in den letzten Jahren fA¼r viele Bereiche der Forschung an Bedeutung gewonnen hat. Etwa 400 VortrAcge und einige Diskussionsbemerkungen, vor mehr als 1000 Teilnehmern aus 26 LAcndern gehalten, waren zu verApffentlichen, wenn wir der Tradition der frA¼heren Internationalen Kongresse in Delft (1949), in Paris (1950) und in London (1954) treu bleiben wollten. Zum ersten Male war es nicht mApglich, alle auf einem Internationalen KongreAŸ fA¼r Elektronenmikroskopie gehaltenen VortrAcge in einem einzigen Band zusammenzufassen. Der 1. Band dieser Verhandlungen enthAclt sowohl die Arbeiten zur Theorie der Elektronenmikroskopie und A¼ber die physikalische sowie technische Weiterentwicklung der GerActe, als auch Mitteilungen A¼ber die Anwendung des ElekAm tronenmikroskops zur Erforschung kristallographischer und technologischer Probleme einAm schlieAŸlich der PrAcparationstechnik. Der 11. Band bringt die Arbeiten A¼ber die Anwendung des Elektronenmikroskops zur LApsung biologischer und medizinischer Fragestellungen und A¼ber die entsprechenden PrAc parationsverfahren. In Abweichung von der Reihenfolge, in der die VortrAcge auf dem KongreAŸ gehalten wurden, waren wir bemA¼ht, die Mitteilungen nach ihrem Sinnzusammenhang in kleinere Sachgruppen einzuordnen, um ein leichtes und schnelles Auffinden zusammengehApriger Themen zu ermApglichen. Die Inhaltsverzeichnisse, die beiden BAcnden beigefA¼gt sind, vermitteln eine ausreichende Aœber. sicht. Jeder Band enthAclt ein alphabetisches Mitarbeiterverzeichnis. Die Deutsche Gesellschaft fA¼r Elektronenmikroskopie, die veranstaltende Organisation, begrA¼AŸte mit dankbarer Anerkennung, daAŸ der Springer.The same Cr-Mo steel, when subjected to a cooling rate more rapid than above, or during isothermal transformation under the chin of the TTT curve, exhibits a bainite as shown in Fig. 8. ... Formvar replica shadowed with chromium. a) 0.1% C a€“ a€“ 1% Cr a€“ 05% Mo a€“ 0, 5% Wa€“ 04% Va steel; b) 4140 type steel; c) 0.1% Ca€“ 225% Cr a€“ 1% Mo steel have confirmed recently in a Cr-Mo-V steel (12). In Fig.


Title:Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique
Author: W. Bargmann, G. Möllenstedt, H. Niehrs, D. Peters, E. Ruska, C. Wolpers
Publisher:Springer-Verlag - 2013-03-08
ISBN-13:

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